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          ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

          簡要描述:ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
          ZetaASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
          此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

          • 產品型號:ZetaAPS
          • 廠商性質:生產廠家
          • 更新時間:2022-03-11
          • 訪  問  量:1589

          詳細介紹

          品牌其他品牌價格區間面議
          產地類別進口應用領域醫療衛生,化工,石油,制藥

          ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

          典型應用:

          綜合穩定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環境保護禪選法礦物富集,食品工業,乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

          主要特點:

          1)能分析多種分散物的混合體;

          2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;

          3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

          4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

          5)可精確測量無水體系;

          6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;

          7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;

          8)具有自動電位滴定功能;

          優于光學方法的技術優勢:

          1)被測樣品無需稀釋;

          2)排除雜質及對樣品污染的干擾;

          3)不需定標;

          4)能分析多種分散物的混合體;

          5)高精度;

          6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

          ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

          優于electroactics方法的技術優勢:

          1)無需定標;

          2)能測更寬的粒徑范圍;

          3)無需依賴Double Layer模式

          4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

          5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

          6)可適用于無水體系;

          7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

          優于微電泳方法的技術優勢:

          1)無需稀釋,固合量高達60%;

          2)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

          3)高精度(±0.1mv);

          4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

          5)electrosmotic flow不影響測量;

          6)對流(convection)不影響測量;

          7)可精確測量無水體系;

          技術參數:

          1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

          2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

          3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

          4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

          5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);

          6)樣品體積:30-230ml;

          7)PH范圍:0~14;

          8)電導率范圍:0~10 s/m

           

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